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探测单元(Probe Unit)

探针单元是一种安装在探针台上,用于FPD的检查,并与测试面板接触,
以传输测试仪的电气信号的部品。
我们提供各种探针单元,满足客户面板的尺寸,分辨率和维护要求。
稳定的接触性能和可维护性有助于实现高精准度和可靠的测试,降低测试成本并提高生产率。

薄膜式 Probe

DE5

Probe形状是从各种Type都可选的Film Type Probe.

特征
  • 根据不同的CONTACT对象、可以选择Bump的有无・以及Bump的尺寸
  • Probe前端针头易见、方便对位
  • Probe的 FPC*1以及COF*2可独立更换
  • COF可用于直接Contact
  • *1 FPC:Flexible Printed Circuits
  • *2 COF:Chip On Film

E3

我们专有的接触方法使其成为一种非常耐用的薄膜型探针,可以防止异物。

特征
  • 易于查看探针前端,易于对位
  • 兼容COG(Chip On Glass)面板

Blade式 Probe

SFB(Super Fine Blade)
UFB(Ultra Fine Blade)

用于窄间距的Probe block。

特征
  • 耐灰尘和异物,可以稳定接触
  • 维护成本降低,每个Pin可以进行维修和更换

ZFB(Zeta Fine Blade)

该探针模块支持多Pin 窄间距的对应

特征
  • 体积小,维护性好
  • Probe位置精度高,能提高接触精度

LiPS型 Probe

LiPS / LiPS-Mono

这是一种用于极窄间距的薄膜型接触式Probe。

特征
  • 低干扰和低刮擦特性优化了传感器产品的检测
  • 通过提高探头位置精度实现高接触再现性
  • 易于更换的Block和高可维护性