半导体相关产品
提供适合各种需求的测试解决方案！
MJC提供广泛的解决方案，有助于提高半导体设计和制造的质量和生产率，
包括探针卡，测试仪，晶圆探测器和测试插座，用于半导体晶圆检测过程中的最终测试。
晶圆探针台（Wafer Prober)（手动探针台，半自动探针台）
这是一种将探针与晶片接触并从测试仪或测量仪器传输电信号以评估半导体器件的特性并判断其是好还是坏的装置。
MJC的产品种类繁多，从用于研究和开发的手动探测器到用于大规模生产测试的自动探测器。
主要产品
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半自动探针台(8英寸 微小电流测定用) -
手动探针台(8英寸 微小电流测定用) -
手动探针台(6英寸/8英寸） -
手动探针台（12英寸） -
便携式手动探针台（2英寸/4英寸） -
温度控制器(热夹头) -
选配 -
配件
半导体检测装置(Tester)
半导体测试设备（测试仪）是一种设备，
用于确定半导体晶圆检测过程中的器件质量以及封装后的最终检测过程。
MJC提供理想测试仪，可满足从开发/故障分析到批量生产的各种需求，并有助于降低测试成本。